南京师范大学学报（工程技术版）
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OBIRCH
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40 nm IC静态和动态 ESD测试及失效分析
赵军伟
1,2
,乔彦彬
1,2
,张海峰
1,2
,陈燕宁
1,2
,李杰伟
1,2
,符荣杰
1,2
2019年04期 [8－12][
摘要
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