[2019全国集成电路可靠性学术会议专栏]栏目下的文章目录
刘耀东,孙 然,姜文超,刘 轩,张 赟
2019年04期 [1-7][摘要](745)[pdf 1739 KB] (945)
赵军伟1,2,乔彦彬1,2,张海峰1,2,陈燕宁1,2,李杰伟1,2,符荣杰1,2
2019年04期 [8-12][摘要](1124)[pdf 3435 KB] (1214)
张宇环,任红宇,张助玲,苏 醒,王 盛
2019年04期 [13-18][摘要](769)[pdf 5499 KB] (960)
张 军1,王永安2,孙明辉2,黄俊硕2,赵旭东2,邱 巍3
2019年04期 [19-25][摘要](1071)[pdf 1961 KB] (1027)
钱君霞1,杨承潘2,王 亮1,刘 铨2,颜 伟2
2019年04期 [26-31][摘要](802)[pdf 1622 KB] (1036)
管伟翔1,钱君霞2,王 亮2,张海龙1,王恩荣1
2019年04期 [32-37][摘要](995)[pdf 1799 KB] (1004)
马鸿娟1,涂新奇2,贾寅森2,颜 伟2
2019年04期 [38-43][摘要](1149)[pdf 1471 KB] (1044)
王 壮,吕 弘,陈 旸
2019年04期 [44-48][摘要](794)[pdf 1454 KB] (929)
邓凌翔1,侯士亮2,杨承潘2,方举昊2,陈 健2,黄俊硕2
2019年04期 [56-61][摘要](732)[pdf 2668 KB] (977)
孙明辉1,2,王永安1,2,赵 阳 1,2,邱 巍3
2019年04期 [62-69][摘要](871)[pdf 3228 KB] (924)
陈宝祥1,祝志博2,黄俊硕2,王永安2
2019年04期 [70-74][摘要](1117)[pdf 1115 KB] (1048)
鲍怡伶1,张浩然2,赵 阳3
2019年04期 [75-80][摘要](1041)[pdf 3006 KB] (1318)
周 敏1,白婉宁2,曹 弋2
2019年04期 [81-85][摘要](1078)[pdf 3678 KB] (1239)
白婉宁1,2,赵 阳1,2,刘强强1,2,蓝雨晨1,2,邱 巍3
2019年04期 [86-91][摘要](1047)[pdf 1331 KB] (1007)
陈 涛1,王永安2,邱忠梅1,李 林1,黄俊硕2
2019年04期 [92-98][摘要](809)[pdf 1935 KB] (988)