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    作者中包括 Rambhatla A 的文章

1 基于0.15微米SOI嵌入式DRAM技术的动态钳制电位DTMOS器件源极与漏极的优化设计(英文)
Burke F1 , Rambhatla A1 , Zahurak J2 , Parke S A1
2003年04期 [63-65][摘要](2597)[pdf 145KB](3393)
2 SOI嵌入式DRAM技术动态钳制电位DTMOS器件性能的优化设计(英文)
Kim C S1 , Burke F1 , Rambhatla A1 , 赵阳1, 3 , Zahurak J3 , Parke S A1
2003年04期 [59-62][摘要](2519)[pdf 163KB](3339)
3 寻求最终亚-50纳米CMOS器件结构(英文)
Rambhatla A1 , Hackler D R2 , Parke S A1
2003年04期 [51-54][摘要](1611)[pdf 438KB](3279)